選擇同一金屬樣品對安檢門進行探測，漏(lou)報越(yue)小越(yue)好。

常規安檢(jian)門應能對所有的金屬(shu)進(jin)行探測（特種(zhong)設計(ji)的探測器除(chu)外），都(dou)能通過《GB15210-2003》國(guo)標(biao)(biao)中關于“靈敏(min)度”標(biao)(biao)準的嚴格檢(jian)驗(yan)。我(wo)們選擇探測的金屬(shu)樣品(pin)最好包含在國(guo)家標(biao)(biao)準范圍(wei)內。

金(jin)(jin)屬(shu)信(xin)號(hao)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)能力(li)是表現一個金(jin)(jin)屬(shu)探測(ce)(ce)器生產(chan)廠家技術(shu)力(li)量(liang)的(de)(de)(de)標志，技術(shu)好的(de)(de)(de)廠家對(dui)有色(se)金(jin)(jin)屬(shu)和黑(hei)色(se)金(jin)(jin)屬(shu)都(dou)能進行(xing)同樣的(de)(de)(de)探測(ce)(ce)，并且(qie)在(zai)穩定(ding)性(xing)好的(de)(de)(de)條(tiao)件下能對(dui)更小的(de)(de)(de)金(jin)(jin)屬(shu)進行(xing)探測(ce)(ce)，靈(ling)敏度控制很清楚。而(er)品質差的(de)(de)(de)安(an)檢(jian)(jian)門如果(guo)把靈(ling)敏度稍調高時，沒帶什么東(dong)西通過(guo)都(dou)亂報警，靈(ling)敏度稍調低(di)一點，就要很大金(jin)(jin)屬(shu)物通過(guo)才能報警。這類安(an)檢(jian)(jian)門是由(you)于(yu)內部電路(lu)設計性(xing)能低(di)劣，控制不線(xian)性(xing)的(de)(de)(de)原因引起，不能采用(yong)。

另外由于(yu)電(dian)磁(ci)波(bo)存在(zai)方向(xiang)(xiang)性(xing)，因此對金屬(shu)物探(tan)(tan)(tan)測(ce)(ce)也存在(zai)方向(xiang)(xiang)性(xing)，對切(qie)割電(dian)磁(ci)波(bo)最(zui)(zui)多的(de)面產生(sheng)信號相應就強，對切(qie)割電(dian)磁(ci)波(bo)最(zui)(zui)少的(de)面產生(sheng)信號相應就弱。技術(shu)優秀的(de)生(sheng)產企(qi)業能對磁(ci)場的(de)方向(xiang)(xiang)性(xing)作均化處理(li)，因此在(zai)安檢(jian)門(men)同(tong)一探(tan)(tan)(tan)測(ce)(ce)區內探(tan)(tan)(tan)測(ce)(ce)金屬(shu)物各個方向(xiang)(xiang)效果差(cha)異(yi)不大；如(ru)果差(cha)異(yi)較(jiao)大，則漏報越大，故用戶應選(xuan)擇方向(xiang)(xiang)性(xing)探(tan)(tan)(tan)測(ce)(ce)均化效果好的(de)產品。

選用同一種(zhong)金(jin)屬物(wu)由測試人(ren)攜帶(dai)從安檢(jian)門的各個區位通(tong)過，并且(qie)在(zai)各個區位把(ba)金(jin)屬物(wu)以不同的方(fang)向通(tong)過，選擇(ze)漏報少的產品。對于要排除小的金(jin)屬，需要探測較大的金(jin)屬時把(ba)靈敏(min)度調節至(zhi)合適(shi)位置即可，試驗方(fang)法同上。