X射線安檢儀是采用X射線掃描成像技術對行李進行安全檢測的電子設備，由X射線發生器、X射線安檢儀、圖像處理系統等部分組成，根據掃描成像判斷物品的安全性。X射線安檢儀屬于低危險射線裝置，輻射量遠遠小于醫學X光機。X射(she)(she)線(xian)(xian)是比可見光(guang)波長還(huan)要短(duan)的一種電磁輻射(she)(she)，具有比可見光(guang)更強的固體、液體穿透(tou)能(neng)力，甚至能(neng)夠(gou)(gou)穿透(tou)一定厚度(du)(du)的鋼板(ban)。當X射(she)(she)線(xian)(xian)穿過物(wu)品(pin)(pin)時，不(bu)同物(wu)質組成、不(bu)同密(mi)(mi)度(du)(du)和不(bu)同厚度(du)(du)的物(wu)品(pin)(pin)內(nei)部結構(gou)能(neng)夠(gou)(gou)不(bu)同程(cheng)度(du)(du)地吸收(shou)(shou)X射(she)(she)線(xian)(xian)，密(mi)(mi)度(du)(du)、厚度(du)(du)越大，吸收(shou)(shou)射(she)(she)線(xian)(xian)越多(duo)；密(mi)(mi)度(du)(du)、厚度(du)(du)越小，吸收(shou)(shou)射(she)(she)線(xian)(xian)越少，所以(yi)從物(wu)品(pin)(pin)透(tou)射(she)(she)出來(lai)的射(she)(she)線(xian)(xian)強度(du)(du)就能(neng)夠(gou)(gou)反映出物(wu)品(pin)(pin)內(nei)部結構(gou)信息。

    X射(she)(she)線探(tan)測(ce)箱的(de)(de)工作方(fang)(fang)式與(yu)普通文件(jian)掃(sao)(sao)(sao)描(miao)儀類似，X射(she)(she)線安檢儀采用(yong)線掃(sao)(sao)(sao)描(miao)工作方(fang)(fang)式，其(qi)內部的(de)(de)高(gao)靈敏X射(she)(she)線線陣列探(tan)測(ce)器在(zai)機械(xie)掃(sao)(sao)(sao)描(miao)裝(zhuang)置的(de)(de)驅動下對(dui)物品逐層掃(sao)(sao)(sao)描(miao)；透(tou)射(she)(she)射(she)(she)線信號(hao)被探(tan)測(ce)、處理后，對(dui)獲得的(de)(de)數(shu)據進(jin)行圖像(xiang)(xiang)重建就得到了(le)圖像(xiang)(xiang)，圖像(xiang)(xiang)上能夠(gou)表現物品的(de)(de)內部信息(xi)。

    X射線(xian)安檢(jian)(jian)儀又稱安檢(jian)(jian)機、行李(li)安檢(jian)(jian)儀，是借助于輸送帶(dai)將被檢(jian)(jian)查(cha)行李(li)送入(ru)X射線(xian)檢(jian)(jian)查(cha)通道而完(wan)成檢(jian)(jian)查(cha)的電(dian)子(zi)設備，主要設置在地(di)鐵、機場、博物館、政府機關等需要安檢(jian)(jian)的場所。

組成結構：X射線機、X射線探測箱、圖像處理系統（計算機）。工作方式：安檢(jian)時，X射(she)(she)線機發(fa)出X射(she)(she)線，X射(she)(she)線透過被檢(jian)箱(xiang)包后，在X射(she)(she)線探測箱(xiang)上形成X射(she)(she)線透視(shi)圖。

    X射線是比(bi)可(ke)見光波(bo)長還(huan)要(yao)短(duan)的(de)一種電磁輻射，具有比(bi)可(ke)見光更強的(de)固體、液體穿(chuan)透能(neng)(neng)力，甚至能(neng)(neng)夠(gou)穿(chuan)透一定厚度(du)的(de)鋼板。當X射線穿(chuan)過物(wu)(wu)品時，不同(tong)物(wu)(wu)質組成、不同(tong)密(mi)度(du)和不同(tong)厚度(du)的(de)物(wu)(wu)品內(nei)部結構(gou)能(neng)(neng)夠(gou)不同(tong)程度(du)地吸(xi)收(shou)X射線，密(mi)度(du)、厚度(du)越大，吸(xi)收(shou)射線越多；密(mi)度(du)、厚度(du)越小，吸(xi)收(shou)射線越少，所(suo)以從物(wu)(wu)品透射出(chu)來的(de)射線強度(du)就(jiu)能(neng)(neng)夠(gou)反映(ying)出(chu)物(wu)(wu)品內(nei)部結構(gou)信息。

    X射線探(tan)測(ce)箱的工作方(fang)(fang)式與普通文(wen)件(jian)掃(sao)描儀(yi)類似(si)，X射線安檢(jian)儀(yi)采用線掃(sao)描工作方(fang)(fang)式，其內部(bu)(bu)的高靈敏X射線線陣列探(tan)測(ce)器在機(ji)械掃(sao)描裝置的驅動(dong)下(xia)對物(wu)品(pin)逐層掃(sao)描；透射射線信(xin)號被(bei)探(tan)測(ce)、處理后，對獲得的數據進行圖像重建(jian)就(jiu)得到了圖像，圖像上能夠表(biao)現物(wu)品(pin)的內部(bu)(bu)信(xin)息。